Sistema de avalia??o da degrada??o da resistência de isolamento/migra??o iónica

NegociávelAtualização em02/16

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Visão geral

A migra??o iónica do sistema de avalia??o da deteriora??o da resistência de isolamento do instrumento de meteorologia (migra??o iónica) refere-se a uma ioniza??o de metais na placa de circuito, como cobre, prata, estanho, etc., sob certas condi??es e a migra??o da camada de isolamento para o outro pólo sob o efeito do campo elétrico. O sistema de avalia??o da degrada??o da resistência ao isolamento (migra??o iónica) é um dispositivo de teste confiável. Sistema de avalia??o da degrada??o da resistência de isolamento/migra??o iónica

Detalhes do produto

Sistema de avaliação da degradação da resistência ao isolamento (migração iónica)

Avaliação da degradação dos materiais de isolamento e da migração de íons

绝缘电阻劣化/离子迁移评估系统

Instrumentos de radiometriaSistema de avaliação da degradação da resistência ao isolamento (migração iónica)Introdução do produto:

Migração de íons refere-se a metais na placa de circuito, como cobre, prata, estanho, etc., que se ionizam sob certas condições e migram através da camada de isolamento para o outro pólo sob o efeito do campo elétrico, o que resulta em uma diminuição do desempenho de isolamento.Sistema de avaliação da degradação da resistência ao isolamento (migração iónica)É um equipamento de teste confiável. Ele é aplicado por uma tensão de corrente contínua fixa na placa de circuito impresso e testado por longos períodos de tempo (1 ~ 1000 horas pode ser personalizado sob demanda), observar se a linha tem um fenômeno de curto-circuito instantâneo e registrar a mudança no valor da resistência, avaliando assim o grau de deterioração do material de isolamento e o efeito do fenômeno de migração de íons.

Instrumentos de radiometriaSistema de avaliação da degradação da resistência ao isolamento (migração iónica)Áreas de aplicação:

Material de embalagem: auxiliar de solda, placa de circuito impresso, cola fotográfica, solda, resina, cola condutora e outros materiais relacionados com a placa de circuito impresso, embalagem de alta densidade;

Material eletrônico: impressãoBGA, CSP e outros detalhes do pacote IC;

Semicondutores orgânicos:PPV, NDI, OFETs, OSCs, OLEDs, etc.;

Componentes eletrônicos: capacitores, conectores e outros componentes eletrônicos e materiais;

Isolamento: Avaliação das propriedades de absorção de umidade de vários materiais isolantes.

Parâmetros técnicos:

Medição da tensão：100 ~ 1500V (pode ser personalizado)

Canal de teste：128 canais (customizável até 960 canais)

Duração do teste:Funcionamento contínuo1500 horas

Temperatura de teste:85 ℃ (pode ser personalizado)

Teste de umidade:85% (pode ser personalizado)

Alcance de medição:1 × 105 ~ 1 × 1015Ω

Tensão polarizada:100 ~ 1500V (pode ser personalizado)