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Condutor térmico ZHDL-S
I. Introdução
O ZHDL-S é um testador de condutividade térmica desenvolvido usando a tecnologia de fonte térmica plana transitória (TPS) para o teste de condutividade térmica de vários tipos diferentes de materiais. O método de fonte de calor de plano transitório é o mais recente dos métodos para estudar o desempenho da condução térmica, levando a tecnologia de medição a um novo nível. A capacidade de medir a condutividade térmica com rapidez e precisão durante a pesquisa de materiais facilita o monitoramento de qualidade empresarial, a produção de materiais e a pesquisa de laboratório. O instrumento é fácil de operar, o método é fácil de entender e não causará danos às amostras testadas.
II. Princípio de funcionamentoTestador de condutividade térmica Método de fonte de calor plano transitório
A tecnologia de fonte térmica plana transitória (TPS) é um novo método para medir o condutor térmico, desenvolvido pelo professor Silas Gustafsson da Universidade Politécnica de Chalmer, na Suécia, com base no método da linha quente. O princípio que determina a propriedade térmica do material é baseado na resposta de temperatura transitória gerada por uma fonte de calor em forma de disco aquecida em um meio infinitamente grande. Usando materiais resistentes ao calor para fazer uma sonda plana, servindo como fonte de calor e sensor de temperatura. O coeficiente de resistência térmica da liga é uma relação linear entre a temperatura e a resistência, isto é, a perda de calor pode ser conhecida através da compreensão das mudanças na resistência, refletindo assim a condutividade térmica da amostra. A sonda do método é uma folha fina de estrutura de dupla espiral contínua formada após o tratamento de corrosão de liga condutora elétrica, a camada externa é uma camada de proteção de isolamento de dupla camada, a espessura é muito fina, o que permite que a sonda tenha uma certa resistência mecânica e mantenha o isolamento elétrico entre a amostra. Durante o teste, a sonda é colocada no meio da amostra para teste. Quando a corrente passa pela sonda, produz um certo aumento de temperatura, o calor gerado é simultaneamente difundido para a amostra de ambos os lados da sonda, e a velocidade de difusão térmica depende das propriedades de condução térmica do material. Ao registrar a temperatura e o tempo de resposta da sonda, o coeficiente de condutividade térmica pode ser obtido diretamente pelo modelo matemático.

III. Objetos de testeTestador de condutividade térmica Método de fonte de calor plano transitório
Metais, cerâmica, ligas, minérios, polímeros, compostos, papel, tecidos, espumas plásticas (isolantes de superfície plana, placas), algodão mineral, paredes de cimento, placas compostas reforçadas por vidro CRC, placas de polibenílio de cimento, concreto comprimido, placas compostas de painéis de vidro e aço, placas de papel, colóides, líquidos, pó, sólidos em forma de partículas e pastas e muito mais.

Características do instrumento
Norma de referência de instrumentos: ISO 22007-2 2008
2, ampla gama de teste, estável desempenho de teste, no mesmo tipo de instrumento doméstico, no primeiro nível;
3, medição direta, o tempo de teste de cerca de 5-160s pode ser configurado, pode medir rapidamente e com precisão o fator de condutividade térmica, economizando uma grande quantidade de tempo;
4, não será afetado pela resistência térmica de contato da mesma forma que o método estático;
5, sem necessidade de preparação especial da amostra, não há requisitos especiais para a forma da amostra, o sólido em forma de bloco só precisa de uma superfície relativamente lisa da amostra e satisfazer o comprimento e a largura de pelo menos o dobro do diâmetro da sonda;
6, teste não destrutivo da amostra, o que significa que a amostra pode ser reutilizada;
7, a sonda é projetada com a estrutura de uma linha em espiral dupla, combinando um modelo matemático exclusivo, usando o algoritmo central para analisar os dados coletados na sonda;
8, o projeto estrutural da mesa de amostra é inteligente, fácil de operar, adequado para colocar amostras de diferentes espessuras, ao mesmo tempo que é simples e bonito;
A coleta de dados na sonda usa um chip de coleta de dados importado, a alta resolução do chip pode tornar os resultados do teste mais precisos e confiáveis;
O sistema de controle do host usa um microprocessador ARM, a velocidade de computação é mais rápida do que o microprocessador tradicional, melhorando a capacidade de processamento analítico do sistema e os resultados de cálculo são mais precisos;
11, o instrumento pode ser usado para a determinação de parâmetros de propriedades térmicas como sólidos em bloco, sólidos em pasta, sólidos em partículas, colóides, líquidos, pó, revestimentos, filmes finos e materiais isolantes;
Interface humano-máquina inteligente, tela LCD colorida, controle de tela táctil, operação fácil e simples;
13 – Forte capacidade de processamento de dados. Sistema altamente automatizado de comunicação de dados e processamento de relatórios por computador.
Parâmetros técnicos:
Faixa de teste: 0,0001-300 W/(m*K)
Gama de temperatura da amostra de medição: temperatura ambiente - 130 ℃
Diâmetro da sonda: sonda número 1 7,5 mm; sonda número 2 15 mm; sonda número 3 30 mm
Precisão: ±3%
Erro repetitivo: ≤3%
Tempo de medição: 5-160 segundos
Alimentação: AC 220V
Potência: 500W
Temperatura da amostra 15℃
Potência da amostra de teste P: potência da sonda número 1 0<P<1w;
Potência da sonda 0<P<14w
Potência da sonda número 3 0<P<14w
Especificações da amostra: amostra única medida pela sonda número 1 (15 * 15 * 3,75 mm)
Amostra individual medida pela sonda número 2 (30 * 30 * 7.5mm)
Amostra única medida pela sonda número 3 (60 * 60 * 2mm)
Nota: a sonda 1 é medida por materiais de baixa condutividade de espessura mais fina, a sonda 3 testa materiais com um coeficiente de condutividade térmica superior a 50; Se a superfície da amostra medida for lisa e viscosa, a amostra pode ser sobreposta.
Mais rápido, simples e abrangente do que outros métodos
Método de fonte de calor plano transitório |
Método laser |
Lei de linha quente |
Lei de proteção de tablets |
|
Método de medição |
Lei de instância |
Lei de instância |
Lei de instância |
Lei de Estabilidade |
Propriedades de medição |
Obter diretamente condutividade térmica e taxa de difusão térmica |
Obter diretamente a taxa de difusão térmica e o calor comparativo, calculando o coeficiente de condutividade térmica através do valor de densidade da amostra de entrada |
Obter diretamente o fator de condutividade térmica |
Obter diretamente o fator de condutividade térmica |
Ámbito de aplicação |
Sólido, líquido, pó, pasta, colóide, partículas |
Sólidos |
Sólidos e líquidos |
Sólidos |
Preparação de amostras |
Sem requisitos especiais, amostragem simples |
amostragem complicada |
Modelagem simples, com requisitos específicos |
Tamanho da amostra maior |
Precisão da medição |
± 3%, de preferência ± 0,5% |
É melhor chegar a ±10% |
É melhor chegar a ±5% |
É melhor chegar a ±3% |
Modelo Físico |
Medição de contacto de fonte de calor plana, desde que o contato superficial limitado seja bom |
Fonte de calor sem contato |
Fonte de calor de linha, o modelo de linha deve ter bom contato |
Tipo de contato de fonte de calor, precisa de bom contato facial |
Faixa de condução térmica [w/(m*k)] |
0.005-300 |
10-500 |
0.005-10 |
0.005-5 |
Tempo de medição |
5-160S |
Alguns minutos. |
Dezenas de minutos. |
Algumas horas. |
preço |
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7- Método de operação fácil de entender
